得益于新一代處理器的應(yīng)用，使儀器具有了更強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力，可將測(cè)試結(jié)果方便地存儲(chǔ)于U盤(pán)或通過(guò)多種接口上傳至上位PC或網(wǎng)絡(luò)，推進(jìn)測(cè)試自動(dòng)化，提高測(cè)試效率。本系列測(cè)試頻率*高為：20Hz-1MHz。具有0.05%的測(cè)試準(zhǔn)確度、9ms/次的*高測(cè)試速度。儀器配有HANDLER、USB、LAN、RS232C 、DCI、GPIB（選配）等豐富的接口，無(wú)不彰顯豐富的資源，將帶給客戶(hù)較好的性?xún)r(jià)比體驗(yàn)。
性能特點(diǎn) ■ 測(cè)試頻率：20Hz-300kHz,分辨率：1mHz ■ 基本精度：0.05％ ■ 測(cè)試速度：9ms/次 ■ 壓電陶瓷、超聲波換能器等器件的阻抗分析與測(cè)試 ■ 連續(xù)曲線(xiàn)掃描/圖形分析功能 ■ 可同時(shí)顯示四種測(cè)量參數(shù) ■ 800×RGB×480 7寸TFT LCD顯示器 ■ 內(nèi)置100組LCRZ設(shè)定文件 ■ GIF圖像、CSV數(shù)據(jù)文件USB存儲(chǔ)器直接存儲(chǔ) ■ HANDLER、USB、LAN 、RS232C、GPIB（選件）DCI接口 ■ 信號(hào)源選擇 10V/100mA可編程AC測(cè)試電平 ■ 10V/100mA可編程DC偏置電源 10V/50mA獨(dú)立DC電壓源 ■ 1A直流偏置電流源（選配）120A外部偏流源（選配） ■ *多201點(diǎn)列表掃描
應(yīng)用 ■ 無(wú)源元件: 電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析 ■ 半導(dǎo)體元件: LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析 ■ 其它元件: 印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估 ■ 介質(zhì)材料: 塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估 ■ 磁性材料: 鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估 ■ 半導(dǎo)體材料: 半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
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